A la hora de estudiar el comportamiento de los apantallamientos el empleo de simuladores electromagnéticos resulta de gran ayuda ya que nos permite evaluar una determinada configuración sin tener que construir el prototipo. El GEM desarrolla aplicaciones mediante elementos finitos en 2-D y 3-D y también emplea la herramienta Matlab® 6.5 PDE toolbox para estudios 2-D. En cuanto al uso de simuladores comerciales se emplean las herramientas ANSYS® 8.1 y CST Microwave Studio En la Fig.3 se ha utilizado la herramienta CAD ANSYS® para obtener la curva de SE. Para evaluar los resultados obtenidos mediante simulación de manera empírica es necesario el uso de una cámara anecoica. En la Fig. 5 se muestra la cámara empleada por el GEM.
Otro aspecto necesario a la hora de evaluar el apantallamiento que proporcionan los materiales bajo estudio lo constituye la correcta caracterización electromagnética de dichos materiales. En este campo el GEM posee una amplia experiencia y ha desarrollado métodos de medida de las propiedades dieléctricas que proporcionan resultados muy precisos.
Raul Contreras CI : 19596032
EES
secc: 02
fuente:
http://repositorio.bib.upct.es/dspace/bitstream/10317/354/1/2005_AI_14.pdf
Electromagnetic Compatibility. EMC Requirements for Electronic Systems. Signal Spectra—the Relationship between the Time Domain and the Frequency Domain. Representation of Nonperiodic Waveforms. Transmission Lines and Signal Integrity. Nonideal Behavior of Components. Conducted Emissions and Susceptibility. Measurement of Conducted Emissions. Antennas. Elemental Dipole Antennas. Radiated Emissions and Susceptibility. Simple Emission Models for Wires and PCB Lands. Crosstalk.
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